1. Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis
پدیدآورنده : / Edited by Alvin W. Czanderna, Theodore E. Madey and cedric J. POwell
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اسناد دانشگاه اراک (مرکزی)
موضوع : Surfaces(Technology)-- Analysis,Materials-- Effect of radiation on
رده :
620
.
44
B366
2. Beam effects, surface topography, and depht profiling in surface analysis
پدیدآورنده : edited by Avin W. Czanderna, Theodore E. Madey and Cedric J. Powell
کتابخانه: کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی امیرکبیر (تهران)
موضوع : Surfaces )Technology( - Analysis , Materials - Effect of radiation on
رده :
TA
418
.
7
.
B43
1998
3. Beam effects, surface topography, and depth profiling in surface analysis
پدیدآورنده :
کتابخانه: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتی شریف (تهران)
موضوع : ، Surface )technology(-- Analysis,، Materials-- Effect of radiation on
رده :
TA
418
.
7
.
B43
1998
4. Specimen handling, preparation, and treatments in surface characterization
پدیدآورنده : edited by Alvin W. Czanderna, Cedric J. Powell and Theodore E. Madey
کتابخانه: کتابخانه مرکز پژوهش متالورژی رازی (تهران)
موضوع : Methodology ، Surfaces )Physics(,Methodology ، Surface chemistry,، Surfaces )Technology(
رده :
QC
173
.
4
.
S94
S65
1998
5. Specimen handling, preparation, and treatments in surface characterization
پدیدآورنده : edited by Alvin W. Czanderna, Cedric J. Powell and Theodore E. Madey
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اسناد دانشگاه شهید باهنر کرمان (کرمان)
موضوع : Methodology ، Surfaces )Physics(,Methodology ، Surface chemistry,، Surfaces )Technology(
رده :
QC
173
.
4
.
S94
S65
1998
